中国成功研制出航天传感器测量芯片

日前在中国航天科工三院33所八室ASIC试验室诞生了第一颗33所自主设计的ASIC芯片FDC3301。FDC3301成功研制标志着中国航天科工三院33所电子技术领域从板级拓展到了芯片级，正由芯片使用者向芯片的设计者转变。

该芯片主要用于完成振梁加速度计频率信号的同步连续测量，可直接输出被测信号浮点值频率。ASIC芯片可应于航空航天传感器频率测量，工业领域测试和测量系统等。